尼康XT V系列包括用于电子元件（PCB、BGA、芯片设计等）无损检测X射线和CT检测系统。

XT V 130和XT V 160

XT V系统范围具有亚微米特征识别功能，可满足当今对复杂电子元件进行高性能、无损检测的需要。尼康Xi Nanotech X射线源与业界领先的平板探测器相配，可产生一流的图像质量，并在2D和3D检测之间实现无缝转换。

产品特点：

卓越的X射线源

尼康的Xi Nanotech X射线源由于整体式发生器设计和无与伦比的160kV与20W功率而具有独特和市场领先的特点。

PCB分析套件

BGA、键合线、PTH和多层板上的PoP等复杂封装的高级测量和分析功能，具有自动通过/失败检测和报告功能。

斜角同心成像

极端斜角视场高达90°，360°样本旋转，借助智能软件和硬件保持感兴趣区域。